Разработан новый метод сканирующей микроскопии

МОСКВА, 17 марта. /ТАСС/. Исследователи из России и Франции разработали новый метод сканирующей микроскопии, который позволяет с нанометровым разрешением отслеживать появление квантовых вихрей в различных сверхпроводящих материалах и манипулировать их свойствами. Это позволит более точно и быстро выявлять дефекты в сверхпроводниках и устройствах на их базе, сообщил Центр научной МФТИ.