Предложен новый метод измерения базового свойства полупроводников

Ширина запрещённой зоны — ключевая характеристика полупроводников, обусловливающая возможности их использования. На сегодняшнем этапе технологического развития всё ещё не придуман способ выращивания углеродных нанотрубок с заранее известной шириной запрещённой зоны. Для определения этого параметра обычно используется туннельная спектроскопия, однако она имеет недостатки.

Главное сейчас