ТОМСК, 6 января. /ТАСС/. Томские ученые разработали отечественный чип для тестирования качества и точности рентгеновских микротомографов, устройство может использоваться как для проверки качества научного оборудования, так и для испытания новых алгоритмов сканирования. Чип уже позволил подтвердить и внести в госреестр средств измерений микротомограф Томского политехнического университета, сообщили ТАСС в вуза.